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更新日期：2024-03-16
簡要描述：
日本Kett簡易型米質(zhì)判別器TX-200該儀器可以使光線從大米的背面穿過并放大以進(jìn)行觀察。弄清糙米和米粉的形狀和顏色等特征；可以識(shí)別的米粒熒光鏡。如經(jīng)常被忽略的封面可以清楚地識(shí)別出有害谷物，未成熟谷物和粉狀谷物。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進(jìn)口 |
|---|
日本Kett簡易型米質(zhì)判別器TX-200特點(diǎn)
1、該儀器可以使光線從大米的背面穿過并放大以進(jìn)行觀察。
2、弄清糙米和米粉的形狀和顏色等特征
3、這是可以識(shí)別的米粒熒光鏡。 經(jīng)常被忽略的封面
4、可以清楚地識(shí)別出有害谷物，未成熟谷物和粉狀谷物。
糙米的觀察例
可以識(shí)別損壞的谷物（例如身體裂痕），不成熟的谷物（例如乳白色和心白）以及龜龜引起的彩色顆粒。
觀察五谷雜糧的混合物
如果谷物有裂紋，
裂紋表面的陰影
清晰可見
是。 （真實(shí)大小）
觀察是否包含未成熟的谷物
滿足度低的部分是
透光困難
黑色的
我能看到它。 （真實(shí)大?。?/p>
精米的觀察實(shí)例
可以識(shí)別殘留的細(xì)菌，麩皮層的剝落程度，損壞的顆粒（例如形狀和損傷）以及粉狀顆粒（例如腹部白和心白）。
胚芽和麩皮層的觀察
胚芽和麩皮層殘留
存在與胚胎部分不同
透射光
由于股權(quán)而微黑
好像
我會(huì)。 （真實(shí)大?。?/p>
觀察粉狀顆粒的污染
粉末部分是反射光
有時(shí)候看起來很白
但是透射光
有點(diǎn)黑
我能看到它。 （真實(shí)大?。?/p>
日本Kett簡易型米質(zhì)判別器TX-200主要規(guī)格
| 適用樣品 | 糙米，糙米 |
|---|---|
| 光源 | 熒光燈4W日光色（ZLP-701） |
| 工作溫度極限 | 10-40℃ |
| 儲(chǔ)存溫度范圍 | 0-40℃ |
| 電源供應(yīng) | 電池1.5V（AA堿性）x 4或AC100V（50 / 60Hz） 輸出DC6V 0.5A |
| 電池壽命 | 連續(xù)約5個(gè)小時(shí)，它會(huì)根據(jù)電池的存放條件和工作溫度 而略有變化。 |
| 尺寸/質(zhì)量 | 162（寬）x 134（深）x 80（高）mm，0.47公斤 |
| 配件 | 小冊子“大米博物館大米質(zhì)量評估文本" *該小冊子 附在產(chǎn)品上。此外，只有小冊子可供選擇。訂購時(shí)請注明。 |
