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      日本hrd-thermal測量薄膜和微小區(qū)域熱導(dǎo)率 熱導(dǎo)氣體分析儀

      訪問次數(shù):1812

      更新日期:2025-05-02

      簡要描述:

      日本hrd-thermal測量薄膜和微小區(qū)域熱導(dǎo)率TM3
      熱物理性質(zhì)顯微鏡是測量熱滲透率的裝置,熱滲透率是熱物理性質(zhì)值之一。
      它是一種可以通過點(diǎn),線和表面來測量樣品的熱性能的設(shè)備。
      也可以測量微米級的熱物理性質(zhì)值的分布,這在常規(guī)熱物理性質(zhì)測量設(shè)備中被認(rèn)為是困難的。

      日本hrd-thermal測量薄膜和微小區(qū)域熱導(dǎo)率 熱導(dǎo)氣體分析儀

      日本hrd-thermal測量薄膜和微小區(qū)域熱導(dǎo)率TM3

       

      特性

      • 熱物理性質(zhì)顯微鏡是測量熱滲透率的裝置,熱滲透率是熱物理性質(zhì)值之一。
      • 它是一種可以通過點(diǎn),線和表面來測量樣品的熱性能的設(shè)備。
      • 也可以測量微米級的熱物理性質(zhì)值的分布,這在常規(guī)熱物理性質(zhì)測量設(shè)備中被認(rèn)為是困難的。
      • 它是*yi款能夠進(jìn)行非接觸式高分辨率熱性能測量的設(shè)備。
      • 檢測光斑直徑為3μm,可在微小區(qū)域內(nèi)高分辨率測量熱物理性質(zhì)(點(diǎn)/線/表面測量)。
      • 由于可以通過改變深度范圍進(jìn)行測量,因此可以測量從薄膜/多層膜到塊狀材料。
      • 您也可以測量基材上的樣品。
      • 激光非接觸式測量。
      • 可以檢測薄膜下的裂縫,空隙和剝離。

      熱物理顯微鏡的測量原理(概述)

      在樣品上形成金屬薄膜,并用加熱激光器定期加熱。

      1. 由于金屬的反射率具有根據(jù)表面溫度而變化的性質(zhì)(熱解法),因此通過捕捉與加熱激光器同軸地照射的檢測激光器的反射強(qiáng)度的變化,來測量表面的相對溫度變化。去做。
      2. 熱量從金屬薄膜傳播到樣品,導(dǎo)致表面溫度響應(yīng)的相位延遲。該相位延遲取決于樣品的熱性質(zhì)。通過測量加熱光和檢測光之間的相位延遲來獲得熱滲透率。 

      主要規(guī)格

      名稱/產(chǎn)品名稱

      熱物理顯微鏡/熱顯微鏡

      測量方式

      熱物理性質(zhì)分布測量(1維,2維,1點(diǎn))

      測量項(xiàng)目

      熱滲透率,(熱擴(kuò)散率),(熱導(dǎo)率)

      檢測光斑直徑

      約3μm

      1點(diǎn)測量標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間

      10秒

      待測薄膜

      厚度幾百納米到幾十微米

      重復(fù)精度

      耐熱玻璃,硅的熱滲透率小于±10%

      樣品

      1.樣品架30mm x 30mm厚度5mm
      2.板狀樣品30mm x 30mm以內(nèi),厚度3mm以內(nèi)

      • 需要對樣品表面進(jìn)行鏡面拋光。
      • 樣品表面需要進(jìn)行Mo濺射。

      工作溫度極限

      24°C±1°C(根據(jù)設(shè)備中內(nèi)置的溫度傳感器)

      平臺移動距離

      ? X軸方向20mm
      ? Y軸方向20mm
      ? Z軸方向10mm

      加熱激光

      半導(dǎo)體激光波長:808nm

      檢測激光

      半導(dǎo)體激光波長:658nm

      電源

      交流100V 1.5kVA

      標(biāo)準(zhǔn)配件

      樣品架,參考樣品

      選項(xiàng)

      光學(xué)壓盤,空調(diào),空調(diào)房,飛濺裝置

       

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