日本advance激光熱膨脹儀LIX-2 series
激光熱膨脹儀LIX-2 series
低膨脹膜/有機(jī)膜的厚度方向和低膨脹玻璃/金屬的微小熱膨脹可以以1nm的z小分辨率進(jìn)行檢測。
測量熱膨脹的方法包括推桿法，光學(xué)干涉法，遠(yuǎn)攝法和電容器法。
采用雙光路邁克爾遜激光干涉測量技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)z精que的測量。
通過采用零摩擦平移鏡，可以通過簡單地將樣品端面加工成球形表面來容易地進(jìn)行測量。
另外，可選的石英墊片可用于在改變溫度的同時(shí)測量低膨脹膜所需的厚度方向。雙光路邁克爾遜激光干涉式熱膨脹儀LIX-2是業(yè)內(nèi)唯yi的商用型號(hào)。
使用
- 測量有機(jī)膜在厚度方向上的膨脹
- 低膨脹玻璃的高精度膨脹測量
- 低膨脹金屬材料的質(zhì)量控制測量
- 密封劑的膨脹率測量
- 各種電子元件的精que熱膨脹測量
- 標(biāo)準(zhǔn)熱膨脹儀校準(zhǔn)樣品的測量
特征
- 平行移動(dòng)樣品架可實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的測量
- 超精密測量，讀數(shù)分辨率為1 nm
- 如果使用石英樣品，則可以測量厚度為50至500μm的薄膜或薄板的厚度。
日本advance激光熱膨脹儀LIX-2 series
規(guī)格
| 模型 | LIX-2M | LIX-2L |
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| 溫度范圍 | 室溫?700℃ | -150-200℃ |
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| 樣品尺寸 | φ3至6 mm x長度10 mm至15 mm長度方向的兩端均球形加工 |
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| 測量氣氛 | ?真空中?低壓高純度氦氣 |
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| 測量方式 | 雙光路邁克爾遜型激光干涉法 |
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| 安裝面積 | 機(jī)身約W2000毫米x D800毫米 |
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| 需要電源 | 主機(jī)AC100V 15A（帶插座和接地）2個(gè)位置 |
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| 要求接地 | D級(jí)（接地電阻100Ω以下） |
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| 冷卻水 | 自來水或蒸餾水3 L / min以上，壓力0.15 MPa以上
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