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      日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

      訪問次數(shù):2198

      更新日期:2025-05-02

      簡要描述:

      日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S
      該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。

      日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

      日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

      該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。除了通過磁控管靶電極進(jìn)行低壓放電外,樣品臺制成浮動式,以減少由于電子束流入造成的樣品損壞。操作簡單,按一下按鈕,沒有技巧。它很小,不占用空間。在桌子的角落里很有用。

      采用

      用于 SEM 樣品的金屬鍍膜裝置。


      日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

      主要產(chǎn)品規(guī)格

      物品規(guī)格
      電源AC100V(單相100V10A)3P插頭1口帶地
      旋轉(zhuǎn)泵10L/min(設(shè)備內(nèi)置)
      設(shè)備尺寸寬 200 毫米 x 深 350 毫米 x 高 345 毫米
      (設(shè)備重量:14.6 公斤)
      樣品室尺寸內(nèi)徑 120 毫米 x 高 65 毫米(硬玻璃)
      樣本表大小直徑50毫米(浮動法)
      電極樣品臺間距35 mm(使用輔助樣品臺時為 25 mm)
      靶電極內(nèi)置永磁體的磁控管型靶電極
      目標(biāo)金屬規(guī)格Φ51 mm, 厚度 0.1 mm
      Pt, Pt-Pd, Au, Au-Pd, Ag




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